测试生成

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ATPG

...采 用新的故障模型(例如:串扰、路径延迟)、自动 测试生成ATPG)、内建测试(BIST)技术。

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Automatic Test Pattern Generation.ATPG

【摘要】:随着VLSI设计规模的日益增大,对于电路的测试生成(Automatic Test Pattern Generation.ATPG)也有了新的要求。提 …

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