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芯片测试

n.chip testing
网络Chip testing; Chip Test; wafer sort

芯片测试

英-汉网络释义

芯片测试

Chip testing

航海及海运专业英语词汇(C4) ... chip scratches 屑痕 chip testing 芯片测试 chip transistor 片状晶体管 ...

Chip Test

微电子论坛,半导体论坛... ... 芯片封装[ Chip Package] 芯片测试[ Chip Test] 微电子人物与企业[ Celebrities&Enterprises] ...

wafer sort

...Test and Final Test） (1) 芯片测试（wafer sort） (2) 芯片目检（die visual） (3) 芯片粘贴测试（die attach） (4) 压焊强度测 …

CP TEST

芯片测试(CP TEST)打点器打点,有两大类:一是R&K式可反复加墨水(达点效果较差,对使用者要求高)一是Xandex式,一次性使用 …

GPStest GPS

I900工程模式详解 -... ... Test 测试 GPStest GPS 芯片测试 b.Show position info 显示位置信息，当然前提是已经完成定位 ...

die sort

同问通过芯片测试（die sort）的芯片(sorted die)专业一点的名称叫什么? 2011-11-28 20:38 提问者： welostyi | 悬赏分：30 其 …

ChiperTest.apk

R750的自带程序的... ... CertInstaller.apk 证书安装，系统程序 ChiperTest.apk 芯片测试，系统程序 Contacts.apk 联系人，系 …

die sorting

求封装专业术语翻译 - Process ... ... BG=back grinding 晶园背面研磨 ~$ N4 EDS=die sorting 芯片测试 [DA= die attach 上芯片 ...

例句：

It will also add another 300 staff over the next year at its chip-testing and assembly operations in Beijing .

未来一年内，它还会为北京的芯片测试与组装厂增加 300 名员工。

The cuts result from the closing of three chip-testing facilities in Asia and halting operations at plants in Oregon and California .

此次裁员是由于几家亚洲的芯片测试工厂的关闭及位于俄勒冈和加州的几个工厂停产造成的。

Finally , the problem at testing is analyzed and the suggestion to improving the performance of the chip is proposed .

最后，针对标签芯片测试中出现的问题及标签芯片的工程化应用，进行了分析并提出改进意见。

Experience on CP test is better .

有芯片测试经验者优先。

Design of A Practical IC Chip Test Instrument

一种实用的集成芯片测试仪的设计

Advanced Testing Technology for Developing LCD Driver IC

着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术

A Test Scheduling Method of SOC using Evolutionary Programming

一种基于进化规划的系统芯片测试调度方法

Optimal bus assignment scheme for system on chip test scheduling

系统级芯片测试调度最优总线指定方法

Keynote : Management Challenges in the Test Floor

主题演讲：大规模生产中的芯片测试管理与挑战

Time Domain Analysis Applied in Wafer Probing of SAW Filter

时域分析在 SAW 滤波器芯片测试中的应用

to debug on the hardware , eliminate circuitry errors , and test on every chip . 3

对板卡硬件调试，线路排错，芯片测试；3 。

Method of Eliminating Error Caused by User 's Aid-hardware during the Test of VLSI Chip

VLSI 芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法

The Design and Realization of the High

高精度芯片测试仪的设计与实现

Design of HDTV Channel Chip Test Platform

数字电视信道芯片测试平台的设计

Test Strategy for SOC Design Based IP

基于 IP 设计的系统芯片测试策略

Study on Test Control for System-on-a-Chip Based on Test Data Slicing

基于数据切片的系统芯片测试控制技术研究

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