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测试向量

网络test vector; test bench; Test Vectors

测试向量

网络释义

测试向量

test vector

二）测试向量（test vector）$ U$ w, Y4 J ^/ H @ 存在pattern memory中，以1/0表示输入高/低电平和预期输出逻辑。

test bench

大部份的模拟使用一个测试向量（test bench），该测试向量一般包含设计本身及驱动设计的所有输入；包含系统中操作该设计 …

Test Vectors

测试向量(Test Vectors)也可以称为测试图样(Test Patterns)，或是真值表(Truth Tables)。测试向量的内容，代表输入脚与输出 …

test pattern

　　包括测试向量（Test Pattern）, 时序（Timing）, 选用波形（Waveform）; 　　2） IEEE 1450.2-2002 (直流参数) 　　包括电压/电流值, …

vector,test

电子技术词典（S-Z）_翻译家(Fanyijia.com) ... vector,stimulus 刺激向量 vector,test 测试向量 velocity 速度 ...

Testcase

3.4.10 测试向量(TestCase)39-414 UART模块的形式化验证41-53 4.1 O-In验证工具及其工作流程41-42 4.2 断言42-44 4.3 形式 …

Test Patterns

...时产生的能量大於电路正常运作时的能量消耗，这是由於测试向量(Test Patterns)在送入待测电路后，造成扫描暂存器(Scan C…

ATPG

通过片上时钟控制模块（OCC）控制产生全速模式下的测试向量（ATPG）多电压，多电源背景下的Hercules 验证方法和SMI…

例句：

and inputting an automatic testing vector to the test circuit and the circuit to be tested to scan the circuit to be tested.

以及输入一自动测试向量至所述的测试电路及所述的受测试电路，以进行对该受测试电路进行扫瞄。

the merged test mode can be used in carrying out testing actions defined by each test vector .

其中该合并测试模式可分别进行个别测试向量所定义的测试行为。

Through two levels traverse , generate test cases automatically and satisfy the coverage criteria stated in this paper.

通过两级遍历，自动生成系统测试向量，并且达到所提的系统测试覆盖率的要求。

In this stage test patterns are fed into every single chip and the response from the chip monitored and compared to "the right answer . "

将测试向量输入到每一个芯片，对其输出结果进行记录并和 “正确答案 ”比较。

A new testability measure is presented to guide test generation such that test patterns with fewer care bits are obtained .

一个新的测度被提出以获得具有较少的确定位数量的确定性测试向量。

Support for ASIC design verification by generating test vectors .

对 ASIC 芯片设计验证提供测试向量支持。

During compression , it generates difference vectors from test data and then encoding the vectors with CPRL codes .

压缩时，先对测试向量集进行差分运算，然后采用 CPRL 码编码差分向量序列。

Recently, a BIST scheme using test patterns applied by Circuit -under-Test (TPAC) is proposed .

由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法是最近新提出的一种自测试技术。

More than 100 testcase and 10 assert statement were developed .

一共开发出 100 多条测试向量，10 条断言语句。

Path delay fault testing can detect lots of defects that can not be detected by the test patterns targeting stuck-at faults .

路径延迟故障测试能够检测到针对固定型故障的测试向量所无法检测到的缺陷。

State Coverage Enhancement Considering Inside Branches and Test Pattern Generation

覆盖状态内部分枝的测试向量生成

A Test Vectors Generation Algorithm for Digital Circuits Component Fault Diagnosis

一种数字电路的测试向量生成算法

Waveform Data Formats and Compressing Algorithms for Test Vector Translation

测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法

Research and Implementation of Key Technologies in Test Vector Cyclization

测试向量的周期化关键技术研究与实现

Principles of gated circuit automation test pattern generation

门级电路自动测试向量生成技术原理

Test Pattern Generation in Built-In Self-Test with Multiple Scan Chains

基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成

测试向量

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